昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层膜厚测量的非接触式金属膜厚测量仪EddyCus TF Series，这款金属膜厚测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜的膜厚精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。

膜厚测量仪（测量厚度1nm~1.8mm）美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。