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MirrorcleMEMS扫描镜技术概述（1）高速的点到点以及倾斜性能大多数的MirrorcleMEMSMirror设备类型都是为点对点光束扫描而设计和优化的。稳态模拟驱动电压会产生MEMS镜像的稳态模拟转角。该设备有一个一对一的对应的驱动电压和角度:它是高度可重复的，没有检测到随时间而发生变化。这在很大程度上是由于静电驱动方法和单晶硅材料的选择。镜面运行机构开环驱动的机械倾斜位置精度在每轴上至少14位(16384点)。对于大多数设备，每个轴上的机械倾斜范围为-5°到+5°，...
查看全文MirrorcleMEMS扫描镜技术概述（2）*的四象限倾斜性能几年前，MirrorcleTech的无框架技术还处于发展的早期阶段，在一代ARIMEMS1到ARIMEMS6中制造的所有设备都是单象限(1Q)或单向类型设备。这指的是每个轴(仍然是两轴或双轴2D设备)能够使镜子从静止位置(0°)偏转到一边(例如+8°)，但不能偏转到另一边(例如-8°)。因此，典型的一象限(1Q)设备实现了X轴上0°到+8°的机械倾斜，Y轴上0°到+8°的机械倾斜。今天，在MEMS镜面行业的产品中...
查看全文显微镜光源：Lumencor用光的力量推进生命科学研究光学显微镜技术是细胞生物学、神经科学、药理学、基因组学、生物医学工程、微生物学、生理学等生命科学领域研究的核心,而显微镜光源，直接决定了样本的成像质量。zhong所周知，传统的显微光源有卤钨灯、等离子电弧放电灯或扫描激光束、氙灯，但随着使用年限的增长这些传统的显微光源会出现闪烁，并且有包含尖峰输出的不规则光谱，对显微成像造成影响。今天，它们在很大程度上被LED固态光源以及激光光源所取代，精准、智能的LED冷光源、激光光源时...
查看全文超连续谱激光器用于光片荧光显微镜光片荧光显微镜的优点光片荧光显微镜（LSFM）是一种可以对活体标本进行快速且无光毒性3D观测的强大显微成像技术。LSFM技术将宽场成像的速度与适度的光学切片和低光漂白特点相结合，因此也被称为选择性平面照明显微镜（SPIM），或简称为“光片”。SPIM或LSFM共同的定义特征是从侧面对焦平面进行平面照明，在任何给定时间，仅对样品的一小部分进行照明，因此与宽场辐射荧光相比，可以最大限度地减少光损伤并提供改善信噪比的光学切片。此外由于图像是以宽场（2...
查看全文纯相位空间光调制器在PSF工程中的应用一、引言2014年诺贝尔化学奖揭晓，美国及德国三位科学家EricBetzig、StefanW.Hell和WilliamE.Moerner获奖。获奖理由是“研制出超分辨率荧光显微镜”，从此人们对点扩散函数(PSF)工程的认识有了显着提高。Moerner展示了PSF工程与MeadowlarkOpticsSLM的使用案例，用于荧光发射器的超分辨率成像和3D定位。PSF工程已被证明使显微镜能够使用多种成像模式对样本进行成像，同时以非机械方式在模式...
查看全文1．介绍双光学频率梳(简称双光梳)[1]的概念在光频梳被提出后不久被引入[2-4]。在时域上，双光梳可以理解为两个相干光脉冲序列，它们的重复频率有轻微的偏移。自问世以来，双光梳光源及其应用一直一个重要研究课题[5]。双光梳光源与早期用于泵浦探测测量的激光系统有许多相似之处。特别是，利用两种不同重复频率对超快现象进行采样的想法，早在20世纪80年代就已经通过等效时间采样概念的演示进行了探索[6,7]。在这种情况下，通过frep/的因子，超快动态过程在时域中被缩小到更慢的等效时间...
查看全文问：膜厚测量仪可以测量氟碳漆厚度吗？答：可以的，可以根据氟碳漆的基材种类选择不同测量原理的膜厚测量仪，当然能选择铁铝两用分体款则*。钢结构氟碳漆由氟碳树脂、助剂、优质颜填料、溶剂等研制而成的，成分中并不包含强磁金属元素。所以钢结构氟碳漆可以用磁性法膜厚测量仪进行漆膜测厚仪测量。如果氟碳漆作为铝合金，不锈钢基材的面漆时，往往会与磷化底漆(15um)搭配，由于成分不含强导电性，所以一般使用涡流法膜厚测量仪进行测量其漆膜厚度。膜厚测量仪可以测量氟碳漆厚度吗钢结构氟碳漆分为半光型、哑...
查看全文光学显微镜中生物细胞的温度控制面临的挑战和解决方案众所周zhi温度的变化对化学反应速率和生物机理都会产生影响，如何精准地控制“实验温度”以及研究不同温度下的实验样本状态尤为重要。因此，我们从成像样品温度控制面临的常见问题出发，致力于实现对显微镜视野中的温度进行高灵敏度的热控制，由此获得更严谨可靠且可重复的数据。图1：VAHEAT系列温度控制器一、显微镜中温度控制问题：1.液体样品蒸发-介质浓度变化，在较冷表面凝结；2.温度漂移；3.温度范围有限（最大45–55°C），标准控制...
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