| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 电子 | 软件 | 高压发生器 |
全功能X射线显微镜
研究型X射线显微镜XROS MF30，使用具有比可见光短的波长的X射线作为探针，获得具有高空间分辨率的图像。此系统也集成光学显微镜，X射线摄影，局部元素XRF微分析，元素mapping等功能。全功能X射线显微镜
全功能X射线显微镜特点：
微焦点X射线管
用于X射线波束形成的可变光束尺寸的聚毛细管透镜
一组基本的辐射滤波器
摄像机用于选择分析区域
用于分析区域调查的光学数码显微镜
光学显微镜轴线与x射线探针轴线相结合
工作距离的自动选择系统
自动X、Y坐标取样台，用于分析区域的定位和扫描
分析单元沿Z轴的自动移动
射线检查用探测器
用于局部XRF分析的硅漂移检测器
用于分析轻元素的真空测量室
内置的自动X光管水冷却系统
软件：
局部元素分析与元素填图
X射线摄影
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一组可更换辐射滤光片(12个)
X射线管
内置水冷系统
硅漂移探测器
回看摄像机
光学显微镜轴与微探针轴结合(锐度自动调节)
光学显微镜(手动调整锐度)
样品台(XY位移，精度10um)
束源 |
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| 微焦点X射线管: | ||
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45 kV | |
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500 W | |
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Mo, other by request | |
用于X射线波束形成的可变光束尺寸的聚毛细管透镜
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30 - 1 000 μm |
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一组基本的光束滤波器 |
Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl |
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光学研究 |
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光学数字显微镜：
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200х |
样品定位和mapping |
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用摄像机选择分析区域 |
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光学显微镜结合X射线探头的轴线来控制分析区域 |
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| 样品和探针移动系统： | |
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| Z轴定位精度 | 12 μm |
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10 μm |
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150x150 mm |
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300х210х100 mm |
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1 kg |
X射线荧光分析 |
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局部元素分析用能量色散半导体探测器 |
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<150 eV |
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1 - 40 keV |
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1 000 000 cps |
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from 1 ppm to 100% |
| X射线摄影 |
| 用于射线照相研究的通过样本辐射传输的点探测器(可选ccd探测器) |
分析单元 |
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电源 |
230 V, 50 Hz |
Size (W x D x H) |
615 x 665 x 650 mm |
Weight |
85 kg |
上海市徐汇区虹梅路2007号6号楼3楼
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