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原位薄膜厚度测量仪

简要描述:原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU-昊量用于测量薄膜厚度和 n&k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集。

  • 产品型号:MPROBE 50 INSITU
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-04-13
  • 访 问 量:903
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    详细介绍
    品牌 其他品牌 价格区间 面议
    产地类别 进口 应用领域 生物产业,电子,综合
    原位薄膜厚度测量仪 MPROBE 50 INSITU

    原位薄膜厚度测量仪


    原位薄膜厚度测量仪用于测量薄膜厚度和n&k(光学常数)的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作,因为它使用门控数据采集,使用高强度闪光氙灯在宽带( UV-NIR)波长范围内进行精确测量。MProbe 50系统是*可定制的,以支持不同的真空室几何形状。根据可用的光学端口,可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在样品表面或准直。反射探头可以放置在沉积室光学端口的外部或内部(使用光纤馈通)。MProbe 50系统没有活动部件。典型测量时间~10ms。可以快速可靠地测量任何半透明薄膜。


    优势:

    1.原位薄膜厚度和n&k测量

    2.用于高环境光环境下测量的门控数据采集

    3.材料:500+扩展材料数据库

    4.连续、快速和可靠的测量

    5.灵活的配置——*定制以匹配沉积室的几何形状


    选型列表:

    MProbe50

    波长范围

    厚度范围

    VIS

    400nm -1100nm

    15nm – 20 μm

    HRVIS

    700nm-1000nm

    1μm-400μm

    NIR

    900nm-1700nm

    100nm – 200μm

    UVVisF

    200nm -900nm

    1nm – 20μm

    UVVISNIR

    200nm-1700nm

    1nm -200μm

    XT

    1590nm -1650nm

    10μm-1mm



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